دانلود کتاب Handbook of Infrared Spectroscopy of Ultrathin Films

ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)

راهنمای طیف سنجی مادون قرمز فیلم های فوق نازک

به دلیل افزایش سریع طیف‌سنج‌ها و رایانه‌های مادون قرمز تبدیل فوریه که به صورت تجاری در دسترس هستند، در ده سال گذشته، استفاده از طیف‌سنجی IR برای مشخص کردن لایه‌های بسیار نازک در رابط‌های توسعه‌یافته امکان‌پذیر شده است. در همان زمان، علاقه به لایه‌های نازک به دلیل کاربرد در میکروالکترونیک، حسگرها، کاتالیزور و نانوتکنولوژی به شدت افزایش یافته است. کتاب راهنمای طیف‌سنجی فروسرخ فیلم‌های فوق نازک یک راهنمای عملی برای روش‌های تجربی، نظریه‌های به‌روز و داده‌های مرجع قابل‌توجهی ارائه می‌کند، که برای دانشمندانی که می‌خواهند طیف‌های IR فیلم‌های بسیار نازک را اندازه‌گیری و تفسیر کنند، حیاتی است. این حجم معتبر همچنین: اطلاعات مورد نیاز برای به کارگیری موثر طیف‌سنجی IR برای تجزیه و تحلیل و ارزیابی لایه‌های نازک و فوق نازک روی سطوح صاف و ناهموار و روی پودرها در حالت جامد-گاز، جامد-مایع، مایع-گاز، مایع-مایع و جامد را ارائه می‌دهد. رابط های جامد * بحث کاملی در مورد تکنیک های زیربنایی تئوری ارائه می دهد * روش های آزمایشی را با جزئیات توصیف می کند، از جمله شرایط بهینه برای ثبت طیف ها و تفسیر طیف ها * اطلاعات دقیقی در مورد تجهیزات، لوازم جانبی و تکنیک ها ارائه می دهد * جداول داده های طیف سنجی IR را به عنوان ضمیمه ارائه می دهد، از جمله اولین تلفیقی. داده های منتشر شده در مورد فرکانس های طولی مواد مختلف * رویکردهای جدید را پوشش می دهد، مانند طیف سنجی IR پیشرفته سطحی (SEIR)، طیف سنجی FTIR با تفکیک زمانی، میکروطیف سنجی با وضوح بالا و استفاده از تشعشعات سنکوترون

Handbook of Infrared Spectroscopy of Ultrathin Films

Because of the rapid increase in commercially available Fourier transform infrared spectrometers and computers over the past ten years, it has now become feasible to use IR spectrometry to characterize very thin films at extended interfaces. At the same time, interest in thin films has grown tremendously because of applications in microelectronics, sensors, catalysis, and nanotechnology. The Handbook of Infrared Spectroscopy of Ultrathin Films provides a practical guide to experimental methods, up-to-date theory, and considerable reference data, critical for scientists who want to measure and interpret IR spectra of ultrathin films. This authoritative volume also: Offers information needed to effectively apply IR spectroscopy to the analysis and evaluation of thin and ultrathin films on flat and rough surfaces and on powders at solid-gaseous, solid-liquid, liquid-gaseous, liquid-liquid, and solid-solid interfaces. * Provides full discussion of theory underlying techniques * Describes experimental methods in detail, including optimum conditions for recording spectra and the interpretation of spectra * Gives detailed information on equipment, accessories, and techniques * Provides IR spectroscopic data tables as appendixes, including the first compilation of published data on longitudinal frequencies of different substances * Covers new approaches, such as Surface Enhanced IR spectroscopy (SEIR), time-resolved FTIR spectroscopy, high-resolution microspectroscopy and using synchotron radiation