Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)
Hideo Fujiwaraقیمت
تخفیف زماندار
۱۳٬۰۰۰ تومان تخفیف
۱۳٬۰۰۰ تومان ارزانتر از قیمت اصلی
بلافاصله پس از خرید، فایل کتاب روی دستگاه شما آمادهٔ دانلود است.
مشخصات کتاب
- نویسنده
- Hideo Fujiwara
- سال انتشار
- ۱۹۸۵
- فرمت
- زبان
- انگلیسی
- حجم فایل
- ۶۷ مگابایت
کتابهای مشابه
Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)
۴۹٬۰۰۰ تومان
Digital systems testing and testable design ; revised printing
۴۹٬۰۰۰ تومان
Digital systems testing and testable design ; revised printing
۴۹٬۰۰۰ تومان
Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
۴۹٬۰۰۰ تومان
Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures
۴۹٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۴۹٬۰۰۰ تومان
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
۴۹٬۰۰۰ تومان
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
۴۹٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۴۹٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۴۹٬۰۰۰ تومان
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
۴۹٬۰۰۰ تومان
Design of Logic Systems
۴۹٬۰۰۰ تومان
قیمت نهایی
۳۶٬۰۰۰ تومان
