کتاب باگ II: آزمایش‌های حافظه منطقی با استفاده از مدارهای مجتمع TTL

TheBUGBOOK II Logic Memory Experiments Using TTL Integrated Circuits

Peter R. Rony

قیمت نهایی

۴۴٬۰۰۰ تومان۴۹٬۰۰۰ تومان۱۰٪ تخفیف

تخفیف زمان‌دار−۵٬۰۰۰ تومان

۵٬۰۰۰ تومان صرفه‌جویی نسبت به قیمت اصلی

نسخه اصلی و اورجینال

بلافاصله پس از خرید، فایل کتاب روی دستگاه شما آمادهٔ دانلود است.

تحویل فوری

پرداخت امن

ضمانت فایل

پشتیبانی

مشخصات کتاب

نویسنده: Peter R. Rony
ناشر: 0
فرمت: PDF
زبان: انگلیسی
حجم فایل: ۱۷٫۴ مگابایت

دربارهٔ کتاب

کتاب «کتاب باگ II: آزمایش‌های حافظه منطقی با استفاده از مدارهای مجتمع TTL» (TheBUGBOOK II Logic Memory Experiments Using TTL Integrated Circuits) نوشتهٔ Peter R. Rony است. نسخهٔ دیجیتال این کتاب به زبان انگلیسی، با فرمت PDF، با حجم ۱۷٫۴ مگابایت در بلیان موجود است. این نسخه، نسخهٔ اصلی (اورجینال) و کامل کتاب است و در صورت نیاز، امکان تبدیل به فرمت‌های دیگر و ارسال آن برای شما وجود دارد. می‌توانید آن را خریداری کرده و بلافاصله دانلود کنید.