Advanced VLSI Design and Testability Issues
Suman Lata Tripathi (editor), Sobhit Saxena (editor), Sushanta Kumar Mohapatra (editor)قیمت
تخفیف زماندار
۱۳٬۰۰۰ تومان تخفیف
۱۳٬۰۰۰ تومان ارزانتر از قیمت اصلی
بلافاصله پس از خرید، فایل کتاب روی دستگاه شما آمادهٔ دانلود است.
مشخصات کتاب
- سال انتشار
- ۲۰۲۰
- فرمت
- زبان
- انگلیسی
- حجم فایل
- ۹٫۸ مگابایت
کتابهای مشابه
Advanced VLSI design and testability issues
۳۶٬۰۰۰ تومان
LSI / VLSI testability design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Simulation and Test Methodols for VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Design (Vlsi Circuits Series)
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Model Order Reduction Techniques In VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
قیمت نهایی
۳۶٬۰۰۰ تومان
