Advanced VLSI design and testability issues
Mohapatra, Sushanta Kumar; Saxena, Sobhit; Tripathi, Suman Lataقیمت
تخفیف زماندار
۱۳٬۰۰۰ تومان تخفیف
۱۳٬۰۰۰ تومان ارزانتر از قیمت اصلی
بلافاصله پس از خرید، فایل کتاب روی دستگاه شما آمادهٔ دانلود است.
مشخصات کتاب
- ناشر
- CRC Press
- سال انتشار
- ۲۰۲۰
- فرمت
- زبان
- انگلیسی
- حجم فایل
- ۹٫۸ مگابایت
- شابک
- 9780367492823، 9780367538361، 9781000168150، 9781000168167، 9781000168174، 9781003083436، 0367492822، 0367538369، 1000168158، 1000168166، 1000168174، 1003083439
کتابهای مشابه
Advanced VLSI Design and Testability Issues
۳۶٬۰۰۰ تومان
LSI / VLSI testability design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Simulation and Test Methodols for VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Design (Vlsi Circuits Series)
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
Advanced Model Order Reduction Techniques In VLSI Design
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
۳۶٬۰۰۰ تومان
قیمت نهایی
۳۶٬۰۰۰ تومان