X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science

Jenő Gubicza, Eötvös Loránd University, Hungary

قیمت نهایی

۴۴٬۰۰۰ تومان۴۹٬۰۰۰ تومان۱۰٪ تخفیف

تخفیف زمان‌دار−۵٬۰۰۰ تومان

۵٬۰۰۰ تومان صرفه‌جویی نسبت به قیمت اصلی

نسخه اصلی و اورجینال

بلافاصله پس از خرید، فایل کتاب روی دستگاه شما آمادهٔ دانلود است.

تحویل فوری

پرداخت امن

ضمانت فایل

پشتیبانی

مشخصات کتاب

نویسنده: Jenő Gubicza, Eötvös Loránd University, Hungary
ناشر: Engineering Science Reference
سال انتشار: ۲۰۱۴
فرمت: PDF
زبان: انگلیسی
حجم فایل: ۱۹٫۵ مگابایت
شابک: 9781466658523، 9781466658530، 9781466658547، 9781466658554، 1466658525، 1466658533، 1466658541، 146665855X

دربارهٔ کتاب

X-ray line profile analysis is an effective and non-destructive method for the characterization of the microstructure in crystalline materials. Supporting research in the area of x-ray line profile analysis is necessary in promoting further developments in this field. X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science aims to synthesize the existing knowledge of the theory, methodology, and applications of x-ray line profile analysis in real-world settings. This publication presents both the theoretical background and practical implementation of x-ray line profile analysis and serves as a reference source for engineers in various disciplines as well as scholars and upper-level students. "This book aims to synthesize the existing knowledge of the theory, methodology, and applications of x-ray line profile analysis in real-world settings"-- Provided by publisher

کتاب‌های مشابه

X-Rays and Materials: Goudeau/X-Rays and Materials

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-Ray Scattering (Materials Science and Technologies)

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-ray tomography in material science : [Workshop on the Application of X-Ray Tomography in Material Science, held Oct. 1999 in Villeurbanne

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-ray Characterization of Materials

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-ray Absorption Spectroscopy for the Chemical and Materials Sciences

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-ray Absorption Spectroscopy for the Chemical and Materials Sciences

۴۹٬۰۰۰ تومان

Advances in X-Ray Analysis: Volume 39 (Advances in X-Ray Analysis)

۴۹٬۰۰۰ تومان

$X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis$

X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

۴۹٬۰۰۰ تومان

$X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis$

X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

۴۹٬۰۰۰ تومان

$X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis$

X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials : Instrumentation and Microstructural Analysis

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-Ray Analysis of Crystals

۴۹٬۰۰۰ تومان

X-ray analysis of crystals

۴۹٬۰۰۰ تومان

قیمت نهایی

۴۴٬۰۰۰ تومان

چه کسانی این کتاب را می‌خوانند

X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science

مشخصات کتاب

دربارهٔ کتاب

کتاب‌های مشابه