دانلود کتاب Applied scanning probe methods 5 scanning probe microscopy techniques

ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)

روشهای کاربردی پروب روبشی 5 تکنیک میکروسکوپ پروب روبشی

این جلد به بررسی شالوده فیزیکی و فنی برای پیشرفت اخیر در تکنیک‌های کاوشگر اسکن کاربردی می‌پردازد. جلد اول در ژانویه 2004 و جلد دوم تا چهارم در اوایل سال 2006 منتشر شد. این زمینه به سرعت در حال پیشرفت است که عملاً هر 12 تا 18 ماه یک جلد برای ثبت آخرین تحولات نیاز است. این مجلدات یک نمای کلی جامع به موقع از برنامه های کاربردی SPM را تشکیل می دهند. کاربردهای صنعتی مطالعات سطح توپوگرافی و دینامیکی نیمه هادی های لایه نازک، پلیمرها، کاغذ، سرامیک و مواد مغناطیسی و بیولوژیکی را در بر می گیرد. پس از معرفی میکروسکوپ پروب روبشی، از جمله فناوری حسگر و مشخصه نوک، فصل‌هایی در مورد استفاده در کاربردهای مختلف صنعتی ارائه می‌شود. این فصل ها توسط محققان برجسته و دانشمندان کاربردی از سراسر جهان و از صنایع مختلف نوشته می شود تا دیدگاه گسترده تری ارائه شود.

Applied scanning probe methods 5 scanning probe microscopy techniques

This volume will examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004 and the second to fourth volumes in early 2006. The field is progressing so fast that there is a need for practically one volume every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. The chapters will be written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.