دانلود کتاب Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
49,000 تومان
جلوههای پرتو، توپوگرافی سطح و پروفایلسازی عمق در تحلیل سطح
| موضوع اصلی | فیزیک |
|---|---|
| نوع کالا | کتاب الکترونیکی |
| ناشر | Springer US |
| تعداد صفحه | 430 |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
| کد کتاب | 0306458969,9780306458965,9780306469145 |
| نوبت چاپ | 1 |
| نویسنده | Alvin W. Czanderna, Cedric J. Powell (eds.), John H. Thomas III (auth.), Theodore E. Madey |
|---|---|
| زبان | انگلیسی |
| فرمت | DJVU |
| سال انتشار | 2002 |
جدول کد تخفیف
| تعداد کتاب | درصد تخفیف | قیمت کتاب |
| 1 | بدون تخفیف | 25,000 تومان |
| 2 | 20 درصد | 20,000 تومان |
| 3 الی 5 | 25 درصد | 18,750 تومان |
| 6 الی 10 | 30 درصد | 17,500 تومان |
| 11 الی 20 | 35 درصد | 16,250 تومان |
| 21 الی 30 | 40 درصد | 15,000 تومان |
| 31 الی 40 | 45 درصد | 13,750 تومان |
| 41 الی 50 | 50 درصد | 12,500 تومان |
| 51 الی 70 | 55 درصد | 11,250 تومان |
| 71 الی 100 | 60 درصد | 10,000 تومان |
| 101 الی 150 | 65 درصد | 8,750 تومان |
| 151 الی 200 | 70 درصد | 7,500 تومان |
| 201 الی 300 | 75 درصد | 6,250 تومان |
| 301 الی 500 | 80 درصد | 5,000 تومان |
| 501 الی 1000 | 85 درصد | 3,750 تومان |
| 1001 الی 10000 | 90 درصد | 2,500 تومان |
ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)
جلوههای پرتو، توپوگرافی سطح و پروفایلسازی عمق در تحلیل سطح
کتابهای زیادی در دسترس هستند که اصول اولیه روشهای مختلف توصیف سطح را به تفصیل شرح میدهند. از سوی دیگر، ادبیات علمی منبعی از چگونگی انجام تک تک تحقیقات توسط آزمایشگاههای خاص فراهم میکند. بین این دو افراط، ادبیات نازک است، اما اینجاست که حجم فعلی به راحتی مینشیند. هم دانشمند تازه وارد و هم دانشمند بالغ تر، در این فصل ها انبوهی از جزئیات و همچنین توصیه ها و راهنمایی های کلی از پدیده های اصلی مربوط به مطالعه نمونه های واقعی را خواهند یافت. در تجزیه و تحلیل نمونه ها، تحلیلگران عملی مدل های نسبتاً ساده ای از نحوه عملکرد همه چیز دارند. بر این دنیای ایدهآل، درک این موضوع است که چگونه پارامترهای روش اندازهگیری، ابزار دقیق، و ویژگیهای نمونه، این دنیای ایدهآل را به چیزی کمتر دقیق، کمتر کنترلشده و کمتر درکتر تحریف میکنند. راهنماییهای ارائهشده در این فصلها به دانشمند این امکان را میدهد تا بفهمد که چگونه دقیقترین و قابل درکترین اندازهگیریهایی را که در حال حاضر ممکن است به دست آورد و در مواردی که مشکلات اجتنابناپذیری وجود دارد، راهنمایی روشنی به عنوان وسعت مشکل و رفتار احتمالی آن داشته باشد. /p>
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
برای فرستادن دیدگاه، باید وارد شده باشید.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.