دانلود کتاب Handbook of surface and interface analysis – methods for problem solving
49,000 تومان
راهنمای تجزیه و تحلیل سطح و رابط – روش های حل مسئله
| نوع کالا | کتاب الکترونیکی |
|---|---|
| ناشر | CRC Press |
| تعداد صفحه | 997 |
| حجم فایل | 12 مگابایت |
| کد کتاب | 9780824700805,0824700805 |
| نوبت چاپ | 1 |
| نویسنده | John C. Riviere, Sverre Myhra |
|---|---|
| زبان | انگلیسی |
| فرمت | DJVU |
| سال انتشار | 1998 |
جدول کد تخفیف
| تعداد کتاب | درصد تخفیف | قیمت کتاب |
| 1 | بدون تخفیف | 25,000 تومان |
| 2 | 20 درصد | 20,000 تومان |
| 3 الی 5 | 25 درصد | 18,750 تومان |
| 6 الی 10 | 30 درصد | 17,500 تومان |
| 11 الی 20 | 35 درصد | 16,250 تومان |
| 21 الی 30 | 40 درصد | 15,000 تومان |
| 31 الی 40 | 45 درصد | 13,750 تومان |
| 41 الی 50 | 50 درصد | 12,500 تومان |
| 51 الی 70 | 55 درصد | 11,250 تومان |
| 71 الی 100 | 60 درصد | 10,000 تومان |
| 101 الی 150 | 65 درصد | 8,750 تومان |
| 151 الی 200 | 70 درصد | 7,500 تومان |
| 201 الی 300 | 75 درصد | 6,250 تومان |
| 301 الی 500 | 80 درصد | 5,000 تومان |
| 501 الی 1000 | 85 درصد | 3,750 تومان |
| 1001 الی 10000 | 90 درصد | 2,500 تومان |
ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)
راهنمای تجزیه و تحلیل سطح و رابط – روش های حل مسئله
این منبع عملی با ادغام آخرین پیشرفتها در ابزار دقیق و روشها، رویکردی از بالا به پایین برای حل مشکلات در تجزیه و تحلیل سطح و رابط ارائه میدهد؛ با شروع یک مشکل خاص، سپس منطقیترین و کارآمدترین مسیر را برای یک راه حل توضیح میدهد. در مورد میکروسکوپ کاوشگر نوری و اسکن شده الکترونی، تصویربرداری با وضوح فضایی بالا، و تکنیکهای مبتنی بر سنکروترون بحث میکند! با تأکید بر حل مسئله برای کلاسهای مختلف مواد و توابع مواد، کتابچه راهنمای تجزیه و تحلیل سطح و رابط مقدمهای برای حل مسئله فراهم میکند که طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، الکترون اوگر و طیفسنجی پراکندگی یون را بررسی میکند و طیفسنجی جرمی سطح و تجزیه و تحلیلهای پروفایل عمقی را توصیف میکند. اثرات و کاشت یون به تکنیک های تجزیه و تحلیل در متالورژی، میکروالکترونیک و نیمه هادی ها، مواد معدنی، سرامیک ها، شیشه ها و کامپوزیت ها می پردازد و روش های سطحی خاصی را برای حل مسئله در جزئیات تریبولوژی توصیف کاتالیزور و موارد دیگر ارائه می دهد. با بیش از 700 جدول، معادله، نقشه، و عکس، و بیش از 1500 استناد کتابشناختی، راهنمای تجزیه و تحلیل سطح و رابط، راهنمای عملی برای شیمیدانان فیزیکی، سطحی، کلوئیدی و تحلیلی است. دانشمندان مواد؛ تکنسین های سطح و رابط؛ فیزیکدانان حالت جامد؛ مهندسین سرامیک، پلیمر و متالورژی؛ و دانشجویان مقطع کارشناسی ارشد در این رشته ها.
Handbook of surface and interface analysis – methods for problem solving
Integrating the latest advances in instrumentation and methods, this hands-on resource offers a top-down approach to solving problems in surface and interface analysis;beginning with a particular problem, then explaining the most rational and efficient route to a solution. Discusses electron optical and scanned probe microscopy, high spatial resolution imaging, and synchrotron-based techniques! Emphasizing problem-solving for different classes of materials and material functions, the Handbook of Surface and Interface Analysis furnishes an introduction to problem-solving examines x-ray photoelectron, Auger electron, and ion scattering spectroscopy describes surface mass spectrometry and depth profiling analyzes ion beam effects and ion implantation addresses analysis techniques in metallurgy, microelectronics and semiconductors, minerals, ceramics, glasses, and composites presents surface specific methods for problem-solving in tribology details catalyst characterization and much more! With over 700 tables, equations, drawings, and photographs, and more than 1500 bibliographic citations, the Handbook of Surface and Interface Analysis is a practical guide for physical, surface, colloid, and analytical chemists; materials scientists; surface and interface technologists; solid-state physicists; ceramic, polymer, and metallurgical engineers; and graduate-level students in these disciplines.
برای فرستادن دیدگاه، باید وارد شده باشید.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.