PDF
دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography
49,000 تومان
پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
| موضوع اصلی | هنرهای گرافیک |
|---|---|
| نوع کالا | کتاب الکترونیکی |
| ناشر | Taylor & Francis |
| تعداد صفحه | 278 |
| حجم فایل | 11 مگابایت |
| کد کتاب | 0850667585,9780850667585 |
| نوبت چاپ | 1 |
| نویسنده | Brian K. Tanner, D.K. Bowen |
|---|---|
| زبان | انگلیسی |
| فرمت | |
| سال انتشار | 1998 |
مطلب پیشنهادی: با پول کتاب در ایران چی میشه خرید؟
در صورت نیاز به تبدیل فایل به فرمتهای PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU میتوانید به پشتیبان اطلاع دهید تا در صورت امکان، فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
سایت بَلیان دارای تخفیف پلکانی است، یعنی با افزودن کتاب بیشتر به سبدخرید، قیمت آن برای شما کاهش مییابد. جهت مشاهده درصد تخفیفها بر روی «جدول تخفیف پلکانی» در پایین کلیک نمایید.
جهت یافتن سایر کتابهای مشابه، از منو جستجو در بالای سایت استفاده نمایید.
شما میتوانید با هر 1000 تومان خرید، ۱ شانس شرکت در قرعهکشی کتابخانه دیجیتال بلیان دریافت کنید و شانس خود را برای برنده شدن جوایز هیجان انگیز امتحان کنید. «شرایط شرکت در قرعهکشی»
جدول کد تخفیف
با افزودن چه تعداد کتاب به سبدخرید، چند درصد تخفیف شامل آن خواهد شد؟ در این جدول پاسخ این سوال را خواهید یافت.
برای مثال: اگر بین ۳ الی ۵ کتاب را در سبد خرید خود قرار دهید، ۲۵ درصد تخفیف شامل سبدخرید شما خواهد شد.
| تعداد کتاب | درصد تخفیف | قیمت کتاب |
| 1 | بدون تخفیف | 25,000 تومان |
| 2 | 20 درصد | 20,000 تومان |
| 3 الی 5 | 25 درصد | 18,750 تومان |
| 6 الی 10 | 30 درصد | 17,500 تومان |
| 11 الی 20 | 35 درصد | 16,250 تومان |
| 21 الی 30 | 40 درصد | 15,000 تومان |
| 31 الی 40 | 45 درصد | 13,750 تومان |
| 41 الی 50 | 50 درصد | 12,500 تومان |
| 51 الی 70 | 55 درصد | 11,250 تومان |
| 71 الی 100 | 60 درصد | 10,000 تومان |
| 101 الی 150 | 65 درصد | 8,750 تومان |
| 151 الی 200 | 70 درصد | 7,500 تومان |
| 201 الی 300 | 75 درصد | 6,250 تومان |
| 301 الی 500 | 80 درصد | 5,000 تومان |
| 501 الی 1000 | 85 درصد | 3,750 تومان |
| 1001 الی 10000 | 90 درصد | 2,500 تومان |
توضیحات
ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)
پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
استفاده از مواد الکترونیکی تقاضا برای تکنیک های قابل اعتماد برای بررسی این مواد ایجاد کرده است. این کتاب به منطقه پراش اشعه ایکس و تکنیک های مدرن موجود برای به کارگیری در تحقیقات می پردازد.
High resolution X-ray diffractometry and topography
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research.
نظرات (0)
برای فرستادن دیدگاه، باید وارد شده باشید.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.