دانلود کتاب Physical methods for materials characterisation

ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)

روشهای فیزیکی برای تعیین مشخصات مواد

در ویرایش دوم این متن محبوب، نویسندگان شرح جامعی از طیف وسیعی از تکنیک‌هایی که در حال حاضر برای توصیف ریزساختار مواد استفاده می‌شوند، ارائه می‌کنند. فصل های مقدماتی فیزیک پایه مورد نیاز برای توصیف ریزساختار مواد و برهم کنش آنها با انواع مختلف تابش را پوشش می دهد. بسیاری از سخت افزارهای درگیر در این تکنیک ها به یک محیط خلاء وابسته است، بنابراین یک فصل کامل به این موضوع اختصاص داده شده است. سپس تکنیک‌های مشخصه‌سازی بر اساس تابش بازجویی، با فصل‌های جداگانه‌ای که به تکنیک‌های نوری و اشعه ایکس، میکروسکوپ الکترونی و طیف‌سنجی، و میکروسکوپ یونی و ذره‌ای و طیف‌سنجی می‌پردازند، تقسیم می‌شوند. در هر فصل، مطالبی ارائه شده است که منابع تشعشع، ساخت و چیدمان ابزار دقیق و تجزیه و تحلیل داده ها را پوشش می دهد. این نسخه که به طور کامل در سرتاسر بازنگری شده است، تغییرات سریعی را که اخیراً رخ داده است را منعکس می کند. این شامل مواد اضافی در مورد طیف وسیعی از روش‌ها، از جمله تکنیک‌های کاوشگر اسکن است که نیاز به تجزیه و تحلیل مواد در مقیاس نانو را منعکس می‌کند، و بررسی دقیق پیشرفت‌های اخیر در تجزیه و تحلیل داده‌ها و تکنیک‌های محاسباتی. Physical Methods for Materials Characterisation، ویرایش دوم برای دانشجویان پیشرفته، کارشناسی ارشد، و محققان در فیزیک، علم مواد و مهندسی جالب خواهد بود.

Physical methods for materials characterisation

In the second edition of this popular text, the authors provide a comprehensive description of the range of techniques currently used for characterizing the microstructure of materials. Introductory chapters cover the basic physics required to describe the microstructure of materials and their interaction with various types of radiation. Much of the hardware involved in these techniques is dependent on a vacuum environment, so a full chapter is devoted to this topic. Characterization techniques are then divided on the basis of the interrogating radiation, with separate chapters dealing with optical and x-ray techniques, electron microscopy and spectroscopy, and ion and particle microscopy and spectroscopy. Within each chapter, material is given covering the radiation sources, the construction and layout of instrumentation and the analysis of data. Comprehensively revised throughout, this edition reflects the rapid changes that have taken place recently. It contains additional material on a range of methods, including scanning probe techniques that reflect the need for analysis of materials at the nanoscale, and a detailed review of recent developments in data analysis and computing techniques. Physical Methods for Materials Characterisation, Second Edition will be of interest to advanced undergraduates, postgraduates, and researchers in physics, materials science, and engineering.