دانلود کتاب Applied scanning probe methods 2. Scanning probe microscopy techniques
49,000 تومان
روش های کاربردی پروب روبشی 2. تکنیک های میکروسکوپ پروب روبشی
| موضوع اصلی | علمی-محبوب |
|---|---|
| نوع کالا | کتاب الکترونیکی |
| تعداد صفحه | 456 |
| حجم فایل | 11 مگابایت |
| کد کتاب | 9783540262428,3540262423 |
| نویسنده | Bharat Bhushan, Harald Fuchs |
|---|---|
| زبان | انگلیسی |
| فرمت |
جدول کد تخفیف
| تعداد کتاب | درصد تخفیف | قیمت کتاب |
| 1 | بدون تخفیف | 25,000 تومان |
| 2 | 20 درصد | 20,000 تومان |
| 3 الی 5 | 25 درصد | 18,750 تومان |
| 6 الی 10 | 30 درصد | 17,500 تومان |
| 11 الی 20 | 35 درصد | 16,250 تومان |
| 21 الی 30 | 40 درصد | 15,000 تومان |
| 31 الی 40 | 45 درصد | 13,750 تومان |
| 41 الی 50 | 50 درصد | 12,500 تومان |
| 51 الی 70 | 55 درصد | 11,250 تومان |
| 71 الی 100 | 60 درصد | 10,000 تومان |
| 101 الی 150 | 65 درصد | 8,750 تومان |
| 151 الی 200 | 70 درصد | 7,500 تومان |
| 201 الی 300 | 75 درصد | 6,250 تومان |
| 301 الی 500 | 80 درصد | 5,000 تومان |
| 501 الی 1000 | 85 درصد | 3,750 تومان |
| 1001 الی 10000 | 90 درصد | 2,500 تومان |
ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)
روش های کاربردی پروب روبشی 2. تکنیک های میکروسکوپ پروب روبشی
جلدهای II، III و IV شالوده فیزیکی و فنی پیشرفت اخیر در تکنیکهای کاربردی کاوشگر اسکن میدان نزدیک را بررسی میکنند و بر اساس اولین جلد منتشر شده در اوایل سال 2004 ساخته شدهاند. این زمینه آنقدر سریع در حال پیشرفت است که نیاز به مجموعه دومی از مجلدات برای ثبت آخرین تحولات. اکنون که کاربردهای صنعتی مطالعات سطح توپوگرافی و دینامیکی نیمه رساناهای لایه نازک، پلیمرها، کاغذ، سرامیک و مواد مغناطیسی و بیولوژیکی را در بر می گیرد، این یک مرور کلی به موقع و جامع از کاربردهای SPM است. جلد دوم میکروسکوپ کاوشگر روبشی شامل فناوری حسگر را معرفی میکند، جلد III طیف وسیعی از امکانات شناسایی را با استفاده از SPM پوشش میدهد و جلد IV فصلهایی را در مورد کاربردها در کاربردهای مختلف صنعتی ارائه میدهد. دیدگاه بین المللی ارائه شده در این سه جلد – که به هم تعلق دارند – به تکامل تکنیک های SPM کمک می کند.
Applied scanning probe methods 2. Scanning probe microscopy techniques
Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes – which belong together – contributes further to the evolution of SPM techniques.
برای فرستادن دیدگاه، باید وارد شده باشید.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.