دانلود کتاب X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials
49,000 تومان
پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی
| موضوع اصلی | فیزیک |
|---|---|
| نوع کالا | کتاب الکترونیکی |
| ناشر | Wiley-ISTE |
| تعداد صفحه | 384 |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
| کد کتاب | 9781905209217,1905209215 |
| نوبت چاپ | نسخه مصور |
| نویسنده | René Guinebretière |
|---|---|
| زبان | انگلیسی |
| فرمت | |
| سال انتشار | 2007 |
جدول کد تخفیف
| تعداد کتاب | درصد تخفیف | قیمت کتاب |
| 1 | بدون تخفیف | 25,000 تومان |
| 2 | 20 درصد | 20,000 تومان |
| 3 الی 5 | 25 درصد | 18,750 تومان |
| 6 الی 10 | 30 درصد | 17,500 تومان |
| 11 الی 20 | 35 درصد | 16,250 تومان |
| 21 الی 30 | 40 درصد | 15,000 تومان |
| 31 الی 40 | 45 درصد | 13,750 تومان |
| 41 الی 50 | 50 درصد | 12,500 تومان |
| 51 الی 70 | 55 درصد | 11,250 تومان |
| 71 الی 100 | 60 درصد | 10,000 تومان |
| 101 الی 150 | 65 درصد | 8,750 تومان |
| 151 الی 200 | 70 درصد | 7,500 تومان |
| 201 الی 300 | 75 درصد | 6,250 تومان |
| 301 الی 500 | 80 درصد | 5,000 تومان |
| 501 الی 1000 | 85 درصد | 3,750 تومان |
| 1001 الی 10000 | 90 درصد | 2,500 تومان |
ترجمه فارسی توضیحات (ترجمه ماشینی)
پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی
این کتاب یک رویکرد فیزیکی به پدیده پراش و کاربردهای آن در علم مواد ارائه میکند. ابتدا یک پیشینه تاریخی برای کشف پراش پرتو ایکس بیان شده است. در مرحله بعد، قسمت 1 توصیفی از پدیده فیزیکی پراش اشعه ایکس بر روی بلورهای کامل و ناقص ارائه می دهد. سپس بخش 2 تجزیه و تحلیل دقیقی از ابزارهای مورد استفاده برای توصیف مواد پودری یا لایه های نازک ارائه می دهد. شرح پردازش سیگنالهای اندازهگیریشده و نتایج آنها نیز پوشش داده شده است، همانطور که پیشرفتهای اخیر مربوط به تجزیه و تحلیل ریزساختاری کمی پودرها یا لایههای نازک همپایی بر اساس پراش اشعه ایکس است. با توجه به پوشش جامع ارائهشده توسط این عنوان، هر کسی درگیر در زمینه پراش اشعه ایکس و کاربردهای آن از این امر استفاده زیادی می شود.
X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials
This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science.An historical background to the discovery of X-ray diffraction is first outlined. Next, Part 1 gives a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals. Part 2 then provides a detailed analysis of the instruments used for the characterization of powdered materials or thin films. The description of the processing of measured signals and their results is also covered, as are recent developments relating to quantitative microstructural analysis of powders or epitaxial thin films on the basis of X-ray diffraction.Given the comprehensive coverage offered by this title, anyone involved in the field of X-ray diffraction and its applications will find this of great use.
برای فرستادن دیدگاه، باید وارد شده باشید.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.